四、原子力顯微鏡(AFM)分析

AFM是掃描探針顯微鏡(SPM)家族中的一員。在SPM家族中,AFM以其原子級(jí)分辨率、廣泛的適用性和操作方便等優(yōu)點(diǎn),成為材料表面拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)研究的重要工具。它是利用探針與樣品原子間的力場(chǎng)作為成像的原始信號(hào),克服了掃描隧道顯微鏡不能 ......（本文共 3308 字 , 12 張圖）     [閱讀本文] >>