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無(wú)損檢測(cè)
無(wú)

無(wú)損檢測(cè)   wú sǔn jiǎn cè

亦稱(chēng)“無(wú)損探傷”。檢測(cè)材料及零件中存在的宏觀缺陷的各種非破壞性方法的總稱(chēng)。常用的有X射線或γ射線透射;超聲波或聲發(fā)射技術(shù);磁場(chǎng)、渦流探傷;滲透法等,用以測(cè)定缺陷的位置、形狀、大小、分布等情況。


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無(wú)損
無(wú)損傷提單
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