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134Cs 796 keV符合修正因子與源半徑和高度關系研究

核電子學與探測技術 頁數(shù): 6 2024-09-02
摘要: 為準確測量源134Cs活度濃度,研究源134Cs特征γ射線符合修正因子與源半徑和高度關系。針對其796 keV γ射線,依據(jù)衰變綱圖分解134Cs衰變?yōu)槿齻€過程,采用蒙特卡羅仿真30種不同半徑和高度源134Cs衰變過程,記錄每個過程無符合計數(shù)和符合計數(shù),開展源134Csγ能譜特征峰和符合修正分析。研究表明:134Csγ能譜796 keV特征峰... (共6頁)

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