134Cs 796 keV符合修正因子與源半徑和高度關系研究
核電子學與探測技術
頁數(shù): 6 2024-09-02
摘要: 為準確測量源
134Cs活度濃度,研究源
134Cs特征γ射線符合修正因子與源半徑和高度關系。針對其796 keV γ射線,依據(jù)衰變綱圖分解
134Cs衰變?yōu)槿齻€過程,采用蒙特卡羅仿真30種不同半徑和高度源
134Cs衰變過程,記錄每個過程無符合計數(shù)和符合計數(shù),開展源
134Csγ能譜特征峰和符合修正分析。研究表明:
134Csγ能譜796 keV特征峰... (共6頁)