基于改進(jìn)YOLOv8的光學(xué)元件體損傷點(diǎn)檢測

摘要： 為提高數(shù)字圖像處理算法對晶體體損傷點(diǎn)識別和計(jì)數(shù)的準(zhǔn)確性，提出一種基于改進(jìn)YOLOv8的晶體體損傷點(diǎn)檢測（YOLOv8-OCD）算法。首先，針對晶體體損傷點(diǎn)非均勻分布的特點(diǎn)，在骨干網(wǎng)絡(luò)中引入卷積塊注意力模塊（CBAM），使模型專注于損傷點(diǎn)密集區(qū)域，以提高模型的特征提取能力；其次，針對數(shù)量龐大的微小損傷點(diǎn)，設(shè)計(jì)小目標(biāo)檢測層，降低漏檢率；最后，針對數(shù)據(jù)集中的一部分低質(zhì)量實(shí)例，使用Wi... （共8頁）