一種基于空間應用的雙極型基準電壓源單粒子輻照機理研究

摘要： 介紹了空間應用中一種雙極型開關穩(wěn)壓器芯片，在單粒子輻照下芯片內(nèi)部基準電壓異常，繼而導致整個芯片輸出功能中斷，且在單粒子脈沖結束后，芯片輸出中斷異常未恢復，需要重新斷電再上電芯片才正常工作的情況?；谏鲜鰧嶒灛F(xiàn)象，從線路級分析器件在異常時候的工作情況，分析了單粒子輻照后器件級的輻照機理。通過芯片內(nèi)部大電流EMMI實驗，結合該雙極型帶隙基準電路，模擬了單粒子輻射效應造成芯片的異常工... （共5頁）

帶隙基準 單粒子效應 失效機理 模擬集成電路