用于薄液膜厚度測量的面陣列電導(dǎo)傳感器的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證

摘要： 液膜厚度是研究降液膜展開及發(fā)展演化所需的重要參數(shù)，目前市面上主流的膜厚探頭主要是基于點(diǎn)探測原理、無法滿足液膜展開的面厚度測量需求，本研究基于降液膜厚度的范圍，自主設(shè)計(jì)了基于柔性印刷電路板的電導(dǎo)法同軸圓環(huán)面陣列傳感器。成功制造的傳感器在42 mm×57 mm面積上有3×4個(gè)同軸圓環(huán)探測單元，探頭間距為15 mm,實(shí)現(xiàn)了0.3 mm～3 mm范圍內(nèi)的液膜厚度測量，測量電阻換算厚度的... （共7頁）