基于分區(qū)再訓(xùn)練的RRAM陣列多缺陷容忍算法

摘要： 針對(duì)RRAM單元制造工藝不完善造成神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)矩陣向量乘法計(jì)算錯(cuò)誤問題，根據(jù)RRAM陣列多缺陷特性進(jìn)行建模，提出了多缺陷容忍算法。首先根據(jù)RRAM陣列常見的轉(zhuǎn)變?nèi)毕莺驼尺B缺陷對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)計(jì)算準(zhǔn)確度的影響，對(duì)兩種缺陷統(tǒng)一建模；然后對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行劃分，基于改進(jìn)的知識(shí)蒸餾方式進(jìn)行分區(qū)訓(xùn)練；最后選擇適配的損失函數(shù)加入歸一化層，進(jìn)一步優(yōu)化算法。在MNIST和Cifar-10數(shù)據(jù)集上進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，結(jié)... （共5頁）