RISC-V架構(gòu)浮點(diǎn)運(yùn)算單元的研究設(shè)計(jì)與UVM驗(yàn)證
南開大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版)
頁數(shù): 8 2024-12-20
摘要: 分析了基于RISC-V架構(gòu)的浮點(diǎn)運(yùn)算單元設(shè)計(jì)方法和運(yùn)行流程.以System Verilog為驗(yàn)證語言,以VCS和Verdi為編譯仿真軟件,設(shè)計(jì)了多個底層UVM驗(yàn)證組件,搭建了浮點(diǎn)運(yùn)算單元的UVM驗(yàn)證平臺.針對功能驗(yàn)證點(diǎn)編寫測試用例,根據(jù)基礎(chǔ)情況和邊界情況的多種浮點(diǎn)運(yùn)算場景配置測試參數(shù),進(jìn)行了浮點(diǎn)運(yùn)算單元的功能驗(yàn)證,分析了驗(yàn)證平臺運(yùn)行數(shù)據(jù)報告、運(yùn)算結(jié)果的Verdi波形、代碼覆蓋率... (共8頁)
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