低功率受激輻射損耗超分辨顯微成像技術(shù)研究進展及展望

摘要： 受激輻射損耗（STED）是一種功能強大的遠場超分辨顯微成像技術(shù)，已被廣泛用于細胞和組織切片等生物樣品的超分辨成像。通過增加損耗激光的功率可以顯著提高STED超分辨成像的空間分辨率和成像深度，然而，過高的激光功率會引起嚴重的光漂白及光毒性。因此，如何在保證成像質(zhì)量的同時有效降低STED超分辨成像所需的損耗激光強度，是目前STED技術(shù)在生物成像領(lǐng)域面臨的關(guān)鍵挑戰(zhàn)。本文從STED成像... （共18頁）