當前位置:首頁 > 科技文檔 > 儀器儀表 > 正文

基于實驗室光源的透射X射線納米分辨顯微鏡研制

物理學報 頁數(shù): 9 2024-08-09
摘要: 透射X射線顯微鏡(transmission X-ray microscope, TXM)是高精密度的尖端X射線成像設(shè)備,是現(xiàn)代科學技術(shù)的結(jié)晶,可以在納米尺度上進行無損成像,為物理學、生命科學、材料學和化學等領(lǐng)域的眾多科學問題提供了有力的研究工具.雖然國內(nèi)外很多同步輻射裝置都建立了以TXM為核心的納米CT實驗站,但是目前國際上只有個別企業(yè)能提供商業(yè)化的實驗室TXM.究其原因,主要... (共9頁)

開通會員,享受整站包年服務(wù)立即開通 >