掃描近場光學(xué)顯微術(shù)的研究進展（特邀）

摘要： 掃描近場光學(xué)顯微鏡（SNOM）因其具有可達10 nm量級的超高光學(xué)分辨率與光譜分析能力，為物理、化學(xué)、材料科學(xué)和生命科學(xué)等領(lǐng)域的若干重要前沿基礎(chǔ)科學(xué)問題提供了強有力的高時空分辨的光學(xué)表征工具。本文聚焦高分辨SNOM技術(shù)近期的研究進展，首先回顧了SNOM成像技術(shù)的基本原理和SNOM探針的發(fā)展歷史。接著重點介紹了將SNOM成像技術(shù)應(yīng)用于研究微納尺度上光與原子、分子、二維材料、生物大... （共14頁）