電離層直接探測(cè)

利用火箭、衛(wèi)星等空間飛行器將探測(cè)裝置攜帶到電離層中，測(cè)量電離層介質(zhì)對(duì)裝置的直接作用，以獲得電離層參量的方法。直接探測(cè)能測(cè)到間接探測(cè)不易測(cè)到的參量，如離子成分、離子密度、離子溫度和高空磁場(chǎng)等；測(cè)量精度高， ......（本文共 1380 字 ）     [閱讀本文] >>