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 一種新型的電子顯微分析技術(shù)。全稱為電子探針X射線顯微分析(electronprobeX-raymicroanalysis)。原理用掃描電子顯微鏡的高速電子束轟擊試樣表面的微小區(qū)域而得到特征X射線,通過其波譜、能譜狀況以分析確定該微區(qū)內(nèi)所含元素的種類和 (本文共 1428 字 , 1 張圖 ) [閱讀本文] >>