海量資源,盡在掌握
 現(xiàn)在一般提到的STEM,主要是指Crewe等采用的場(chǎng)發(fā)射電子槍式的掃描透射電鏡。在SEM中限制分辨本領(lǐng)的是信噪比,因此電子束的強(qiáng)度不能太弱(SEM中的束流比TEM中的束流大好幾倍)。一般的發(fā)叉型鎢絲提供的極限亮度只能使分辨率達(dá)到2nm左 (共 287 字) [閱讀本文] >>