第一節(jié) 透射電子顯微鏡的結(jié)構及超薄切片技術

所屬欄目:形態(tài)學技術

透射電鏡(transmissionelectronmicroscope,TEM)是用電子束照射標本,用電子透鏡收集穿透標本的電子并放大成像,用以顯示物體超微結(jié)構的裝置。透射電鏡所產(chǎn)生的圖像是平面的。它的分辨率可達0.2nm,放大倍數(shù)可達40~100萬倍。一、透射電子顯 ......(本文共 5940 字 )     [閱讀本文] >>


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