所屬欄目:機械制造檢測技術(shù)
立式接觸干涉儀是應(yīng)用光波干涉原理,采用比較法測量長度的高精度儀器。主要用于檢定尺寸小于120mm的2~4等量塊,也可對高精度零件的外尺寸作微差測量。儀器的外形如圖2-45所示。光學(xué)系統(tǒng)見圖2-46。圖2-45立式接觸干涉儀圖2-46立式 ......(本文共 529 字 , 2 張圖) [閱讀本文] >>