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電子顯微學報(2024年06期)
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
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- 基本信息
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:中國物理學會
:雙月
:1000-6281
- 出版信息
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: 基礎科學
: 物理學
:7028篇
- 評價信息
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:1.07
:0.903
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目 錄
- 界面影響B(tài)FO鐵電薄膜極化翻轉(zhuǎn)行為的原位電學研究
- 硒化銻儲鈉機制的原位透射電鏡研究
- 選區(qū)激光熔化成形GH3536合金顯微組織和力學性能研究
- 加速電壓、探測層厚度和處理方法對混合像素探測器成像的影響探究
- 基于機器學習的原子識別以及非線性漂移校正
- 狹縫陣列法產(chǎn)生準貝塞爾電子束用于HAADF-STEM成像研究
- 腎缺血再灌注損傷對大鼠腎小球濾過屏障超微結構的影響
- 掃描電鏡二次電子探測器閃爍體導電層厚度對成像的影響
- 共聚焦顯微拉曼光譜儀的新功能設計與實現(xiàn)
- 掃描電鏡多角度圖像采集系統(tǒng)研究
- 基于雙目視覺的FIB-SEM雙束系統(tǒng)圖像三維重建研究
- 高通量測序技術與電鏡技術在RNA表觀修飾研究中的應用
- 電子束品質(zhì)評價方法綜述
- 電子顯微學報 第43卷(2024年)總目次
- 《電子顯微學報》征稿簡則
- 青稞首張幼穗分化圖譜的繪制
- 《電子顯微學報》編輯部年終感言
- 賀新春